[HF20244243]光学显微成像模块性能测试成交公告

序号

服务内容

服务期限

1

光学显微成像模块分辨率性能测试a：

横向分辨率测量：在100 物镜下，测量光片成像模块的横向分辨率，取不少于15个位点，测量平均值，测量精度不低于10 nm。

2025年3月30日之前

2

光学显微成像模块分辨率性能测试b：

轴向分辨率测量：在100 物镜下，测量光片成像模块的轴向分辨率，取不少于15个位点，测量平均值，测量精度不低于10 nm。

2025年3月30日之前

3

光学显微模块轴向漂移补偿功能测试a：

漂移补偿范围测试：验证系统在设定的 Z 轴行程内（不小于10μm）能否准确追踪焦点；记录在不同位点（不少于 15 点）时系统的漂移补偿情况。

2025年3月30日之前

4

光学显微模块轴向漂移补偿功能测试b：

漂移补偿精度测试：持续拍摄固定荧光样品或反射镜面并观察焦面变化来评估；检查不同位点（不少于15点）漂移量在一段时间内的实际偏差。

2025年3月30日之前

5

光学显微模块轴向漂移补偿功能测试c：

漂移补偿长时程稳定性测试：进行长时程（不小于1小时）连续成像，监测不同位点（不少于15点）焦面是否始终保持一致。

2025年3月30日之前