北京科技大学类脑芯片多角度性能测试系统

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（一）采购标的名称：类脑芯片多角度性能测试系统 （二）采购标需实现的主要功能或者目标 类脑芯片多角度性能测试系统包括类脑器件多模态****点击查看工作站。类脑芯片多角度性能测试系统是面向人工突触、神经元器件与类脑芯片研发的核心表征设备。设备可生成可编程任意波形激励信号，实现超快速脉冲输出与高速瞬态IV测试，完成突触可塑性、权重更新、遗忘特性、功耗与时序响应等多维度性能表征，规避多台分立仪器联用带来的精度损耗、接线复杂、误差补偿困难等问题。主要用于二维材料基神经形态器件的机理研究，开展仿生电信号模拟、器件阵列可靠性评估，支撑存算感算一体原型器件验证，获取稳定多样的测试数据集，为类脑器件机理解析、结构优化以及面向心电等实际场景的硬件化应用研究提供完备的测试支撑。 （三）采购标的数量：1套 （四）采购标需满足的质量、服务、安全、时限等要求 合同签订并收到预付款或者LC后6个月内交货，自验收合格之日起质保期不少于1年。各项技术参数符合相关国家标准以及采购技术要求。须提供在售全新设备，不得为停产型号或翻新机。