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| | 1 | - | SAT高阶超声波扫描检测试验项目 | 其他 | 规格:详见附件技术要求;状态/交货状态:详见附件技术要求;表面处理:详见附件技术要求;质量等级/性能等级:详见附件技术要求;技术标准:详见附件技术要求;特殊要求:详见附件技术要求;附加技术条件:详见附件技术要求 | - | - | 20.0 | 颗 | 2026年12月31日 | - | 失效分析过程中需要供应商一起协助分析，给出指导性意见，出具失效分析报告，具体失效分析手段根据实际情况做调整。 报价前需要联系技术人员详细沟通试验要求，电话150****点击查看7533，沟通无误后再报价。 | ||
| | 1 | - | 锡球打线试验项目 | 其他 | 规格:详见附件技术要求;状态/交货状态:详见附件技术要求;表面处理:详见附件技术要求;质量等级/性能等级:详见附件技术要求;技术标准:详见附件技术要求;特殊要求:详见附件技术要求;附加技术条件:详见附件技术要求 | - | - | 100.0 | unit | 2026年12月31日 | - | 失效分析过程中需要供应商一起协助分析，给出指导性意见，出具失效分析报告，具体失效分析手段根据实际情况做调整。 报价前需要联系技术人员详细沟通试验要求，电话150****点击查看7533，沟通无误后再报价。 | ||
| | 1 | - | InGaAs微光显微镜试验项目 | 其他 | 规格:详见附件技术要求;状态/交货状态:详见附件技术要求;表面处理:详见附件技术要求;质量等级/性能等级:详见附件技术要求;技术标准:详见附件技术要求;特殊要求:详见附件技术要求;附加技术条件:详见附件技术要求 | - | - | 20.0 | 小时 | 2026年12月31日 | - | 失效分析过程中需要供应商一起协助分析，给出指导性意见，出具失效分析报告，具体失效分析手段根据实际情况做调整。 报价前需要联系技术人员详细沟通试验要求，电话150****点击查看7533，沟通无误后再报价。 | ||
| | 1 | - | 去锡球试验项目 | 其他 | 规格:详见技术文件要求;状态/交货状态:详见技术文件要求;表面处理:详见技术文件要求;质量等级/性能等级:详见技术文件要求;技术标准:详见技术文件要求;特殊要求:详见技术文件要求;附加技术条件:详见技术文件要求 | - | - | 20.0 | 颗 | 2026年12月31日 | - | 失效分析过程中需要供应商一起协助分析，给出指导性意见，出具失效分析报告，具体失效分析手段根据实际情况做调整。 报价前需要联系技术人员详细沟通试验要求，电话150****点击查看7533，沟通无误后再报价。 | ||
| | 1 | - | UBM去除试验项目 | 其他 | 规格:详见附件技术要求;状态/交货状态:详见附件技术要求;表面处理:详见附件技术要求;质量等级/性能等级:详见附件技术要求;技术标准:详见附件技术要求;附加技术条件:详见附件技术要求 | - | - | 20.0 | 颗 | 2026年12月31日 | - | 失效分析过程中需要供应商一起协助分析，给出指导性意见，出具失效分析报告，具体失效分析手段根据实际情况做调整。 报价前需要联系技术人员详细沟通试验要求，电话150****点击查看7533，沟通无误后再报价。 | ||
| | 1 | - | 去层分析试验项目 | 其他 | 规格:详见附件技术文件;状态/交货状态:详见附件技术文件;表面处理:详见附件技术文件;质量等级/性能等级:详见附件技术文件;技术标准:详见附件技术文件;特殊要求:详见附件技术文件;附加技术条件:详见附件技术文件 | - | - | 20.0 | unit | 2026年12月31日 | - | 失效分析过程中需要供应商一起协助分析，给出指导性意见，出具失效分析报告，具体失效分析手段根据实际情况做调整。 报价前需要联系技术人员详细沟通试验要求，电话150****点击查看7533，沟通无误后再报价。 | ||
| | 1 | - | OM试验项目 | 其他 | 规格:详见附件技术文件要求;状态/交货状态:详见附件技术文件要求;表面处理:详见附件技术文件要求;质量等级/性能等级:详见附件技术文件要求;技术标准:详见附件技术文件要求;特殊要求:详见附件技术文件要求;附加技术条件:详见附件技术文件要求 | - | - | 20.0 | 小时 | 2026年12月31日 | - | 失效分析过程中需要供应商一起协助分析，给出指导性意见，出具失效分析报告，具体失效分析手段根据实际情况做调整。 报价前需要联系技术人员详细沟通试验要求，电话150****点击查看7533，沟通无误后再报价。 | ||
| | 1 | - | SEM高阶拍照试验项目 | 其他 | 规格:详见附件技术文件要求;状态/交货状态:详见附件技术文件要求;表面处理:详见附件技术文件要求;质量等级/性能等级:详见附件技术文件要求;技术标准:详见附件技术文件要求;特殊要求:详见附件技术文件要求;附加技术条件:详见附件技术文件要求 | - | - | 20.0 | 小时 | 2026年12月31日 | - | OM细节看不清的用SEM看 失效分析过程中需要供应商一起协助分析，给出指导性意见，出具失效分析报告，具体失效分析手段根据实际情况做调整。 报价前需要联系技术人员详细沟通试验要求，电话150****点击查看7533，沟通无误后再报价。 | ||
| | 1 | - | FIB高度定点横截面切割试验项目 | 其他 | 规格:详见技术文件要求;状态/交货状态:详见技术文件要求;表面处理:详见技术文件要求;质量等级/性能等级:详见技术文件要求;技术标准:详见技术文件要求;特殊要求:详见技术文件要求;附加技术条件:详见技术文件要求 | - | - | 20.0 | 小时 | 2026年12月31日 | - | 失效分析过程中需要供应商一起协助分析，给出指导性意见，出具失效分析报告，具体失效分析手段根据实际情况做调整。 报价前需要联系技术人员详细沟通试验要求，电话150****点击查看7533，沟通无误后再报价。 |
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