10MHz稀土软磁材料交流磁性测试系统

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面向GaN半导体器件发展对稀土软磁材料的测试需求，实现高频大电流下磁饱和特性表征，助力材料本征性能优化及器件设计仿真，推动稀土软磁前沿材料开发及磁性器件设计等学科方向的发展，采购一台（套）10 MHz稀土软磁材料交流磁性测试系统。该系统主要用于：1）测试各类稀土磁性材料的各种形状的磁特性，包括最大磁通密度、剩磁、矫顽力、矩形比、比磁导率磁芯损耗、相位角、总磁通变化、阻抗磁导率、复数磁导率和磁损耗等数据；2）搭配DC叠加测试台可精准测量磁性功率器件等的DC偏压特性；3）搭配宽量程恒温箱扫描仪可测试器件的温度特性。在10Hz-10 MHz频率范围内实现高重复性、高精度的B-H曲线测试，该系统应达到以下指标： 1、B-H分析仪主机：测试频率10Hz~10MHz（正弦波）、10Hz~1MHz（方波），最大电压，±200 V,最大电流，±6 A；励磁方法，自动励磁，测试模式：CROSS-POWER模式。 2、功率放大器：测试频率DC-5 MHz，最大输出电压，±150Vpeak（f<800kHz），±64Vpeak（f<2MHz）最大电流，5Apeak（f>50Hz），±6Apeak（f>50Hz），输出阻抗：30mΩ+0.33μH； 3、恒温扫描箱：测试频率10-5 MHz，最大电压，±200 V,最大电流，±6 A；温度范围，-30℃-150℃，测试样品数，最大20个； 4、DC偏置测试仪：测试频率10 Hz-3 MHz（正弦波）、10kHz~1MHz（ 方波），最大DC偏置，30 A，最大波纹电流, ±6 A。 5、样品的B-H曲线、温度特性、DC叠加特性等均可实现全自动测试。