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1 | 辐射探测光电综合性能测试系统 | 辐射探测光电综合性能测试系统,1套。用于闪烁体和半导体等辐射材料在极端温度条件下的辐射物理特性研究。温度范围:液氮温度-500K,增益大于 100000,电子学系统能量分辨率优于0.5%(用HPGe探头测662keV射线)。供货周期:合同签订收到预付款后6个月,质保1年。 | ****点击查看000.00 | ****点击查看 |