磁光克尔显微镜

物理光学仪器-A****点击查看0303

为完善非晶合金多尺度、全链条高通量表征体系，精准揭示非晶软磁薄膜宏观磁性能背后的微观磁畴调控机制，弥补宏观磁损耗测试无法解析微观结构缺陷的短板和材料快速筛选功能，本次采购磁光克尔显微镜一套。设备专为非晶软磁薄膜、超薄非晶带材、粉末等样品的高通量筛选研发，适配薄膜类样品厚度薄、磁信号弱、微观磁畴细密的测试难点，支持极向、纵向多模式克尔成像，具备高空间分辨率，可精准捕捉非晶薄膜细微磁畴形貌、畴壁迁移及磁化翻转动态规律。区别于传统单点低效表征设备，该仪器搭载大面积快速扫描成像模块，可实现多批次、多区域薄膜样品的批量快速观测，完美适配非晶软磁薄膜配方筛选、镀膜工艺优化、微区磁性均匀性排查等高通量研发场景。 设备配备全自动智能成像与数据分析系统，可一键完成薄膜样品磁畴图像采集、噪声校准、参数量化统计与数据批量导出，大幅降低人工操作成本，提升非晶薄膜高通量筛查效率。同时兼容变温、外场励磁测试工况，可模拟薄膜器件实际服役环境，精准表征工况下薄膜磁畴演变与性能衰减规律。该设备需满足4英寸衬底样品的区域扫描能力保持无损检测，希望设备开放接口协议，****点击查看实验室高通量表征需求，可快速完成大批量非晶软磁薄膜样品的性能甄别、机理溯源与工艺迭代，高效支撑非晶软磁薄膜新材料、新工艺的高通量研发与产业化预研工作。