磁损耗测量系统

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****点击查看实验室非晶、纳米晶软磁合金材料高通量研发、批量性能质检及多物理场使役性能验证需求，破解传统测试设备测试效率低、高频低损耗测试精度不足、无法模拟实际工况的痛点，本次拟采购一套高精度高频B-H磁损耗分析测试系统。 该设备需适配非晶合金材料高频、低损耗、易受偏磁与温度影响的磁特性测试需求，具备10Hz~10MHz宽频测试能力，采用标准交叉功率法，精准采集磁滞回线、比总损耗、矫顽力、磁导率等核心参数，解决传统设备相位误差大、低损耗测试数据失真问题。设备需配套30A直流偏置模块，可模拟电力电子器件带载偏磁工作工况，贴合非晶合金器件实际服役环境。 为适配高通量批量测试需求，配置-30℃~180℃多工位高低温扫描夹具，支持满足40个，多样品自动连续测温测磁，大幅提升材料温度稳定性、老化性能的批量测试效率。配套专用自动测试软件与通讯模块，可实现测试序列自动化运行、数据自动存储导出，需提供接****点击查看实验室高通量实验数据批量采集分析需求。 本次采购包含设备主机、全套功能选配模块、通讯配件、上门安装调试、专业技术培训及原厂质保服务，可全面支撑非晶合金新材料配方迭代、工艺优化、性能标定等科研与检测工作，完善软磁材料高通量测试研发体系，保障科研数据的准确性、规范性与高效性。